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北京卓立漢光儀器有限公司（簡稱卓立漢光）和湖北眾韋光電科技有限公司（簡稱眾韋光電）是共同的合作伙伴，雙方致力于提供光電產(chǎn)品尤其是微區(qū)磁光及角分辨系統(tǒng)的開發(fā)與應(yīng)用，已從產(chǎn)品，技術(shù)，銷售等多方面開展深入合作。為了感謝與回饋廣大科研工作者對我們的支持與厚愛，眾韋光電誠摯決定在特定時間段內(nèi)，面向科研群體，提供免費的測樣服務(wù)。此次舉措旨在拓寬科研工作者接觸前沿科技的途徑，讓他們能夠在無科研儀器的前提下仍能有效獲取新技術(shù)測試結(jié)果，深入體驗微區(qū)光譜、磁光及角分辨系統(tǒng)的產(chǎn)品魅力，從而更有效地利用該設(shè)備開展研究，加快科研項目的進程。
測試服務(wù)介紹
眾韋光電先后開發(fā)了光學(xué)三階非線性效應(yīng)測量系統(tǒng)，飛秒時間分辨泵浦探測光學(xué)系統(tǒng)，低溫微區(qū)磁光克爾及磁圓二色測量系統(tǒng)，兼容低溫及磁場的多維度（反射/透射光譜、光致/電致發(fā)光、拉曼光譜、熒光壽命掃描成像、光電流、非線性光學(xué)）微區(qū)光電測試系統(tǒng)等，已為國內(nèi)外多家知名高校和研究所提供了優(yōu)質(zhì)的服務(wù)?；赪aynelabs3 的MAPS全電動化微區(qū)測試框架，眾韋光電推出面向前沿科學(xué)研究與企業(yè)研發(fā)的云端測試服務(wù) - 眾韋云測。全電動化的測試設(shè)備將微區(qū)光電測試的便捷度和自由度提升至另一個領(lǐng)域，即云端測試。用戶可郵寄樣品至眾韋云測，在安排的時間段內(nèi)，可遠程自由操控整套設(shè)備進行找樣，參數(shù)調(diào)整，單點測試及Mapping測試等。
全自動微區(qū)偏振Raman/PL系統(tǒng)
全自動微區(qū)氦氣閉循環(huán)Raman/PL系統(tǒng)
全自動微區(qū)偏振SHG系統(tǒng)
全自動微區(qū)FLIM/PL系統(tǒng)
應(yīng)用案例
華中科技大學(xué)采用眾韋光電研制的單像素及陣列器件光電流投影掃描成像系統(tǒng)獲得了激光投影光電傳感單元的顯微光電流圖像。（Mater. Today 69, 79-87, 2023）
圖 單像素光電流圖像
復(fù)旦大學(xué)采用眾韋光電研制的熒光及熒光壽命掃描成像系統(tǒng)獲得了鈣鈦礦樣品的PL Mapping圖（Adv. Funct. Mater. 2024, 2402061）
圖 WBE鈣鈦礦薄膜的相關(guān)光學(xué)參數(shù)表征
CVD生長堆疊MoS2 PL & Raman Mapping
WSe2低波數(shù) Raman
氦氣閉循環(huán)低溫系統(tǒng) – 銻化鎵（GaSb）變溫PL
生物藻類化石熒光顯微鏡成像
生物藻類化石單點FLIM和FLIM Mapping
MoSeTe 晶粒樣品 偏振SHG Mapping
預(yù)約測試
眾韋云測開放首次首個樣品免費測樣服務(wù)，有測樣需求請及時填寫測樣信息表并聯(lián)系我們安排機時。對于長期合作客戶，可進行現(xiàn)場或遠程培訓(xùn)，培訓(xùn)通過后，可開放全遠程自助測試權(quán)限。
測試服務(wù)類型：反射/透射譜、拉曼光譜、熒光/熒光壽命、光電導(dǎo)、角分辨、偏振二次諧波
測樣所需時間：現(xiàn)有設(shè)備及測試條件測試時間為收到樣品7天內(nèi)；
樣品制備須知：空氣、溫度敏感樣品需提前告知；
測試服務(wù)聯(lián)系人：韓經(jīng)理 15172410555；蔡經(jīng)理 18707174175
更多詳細測試要求及細節(jié)客戶可自行拓展補充，嘗試性測試需測試時與測試技術(shù)人員實時溝通，測試費用按照眾韋云測收費標準執(zhí)行。
其他：眾韋云測測樣樣信息表（見附件一）
預(yù)約流程
湖北眾韋光電科技有限公司是一家從事實驗室及工業(yè)設(shè)備研發(fā)及技術(shù)輸出服務(wù)的科技創(chuàng)新公司。公司業(yè)務(wù)包含光電測試、設(shè)備開發(fā)、技術(shù)服務(wù)及進出口貿(mào)易等多個方面，涵蓋光電子、電子、電氣等多個領(lǐng)域。已在超快光學(xué)，顯微光學(xué)，運動控制，及低溫、強磁、強激光等綜合極端實驗條件下的光電設(shè)備開發(fā)方面積累了豐富的經(jīng)驗。眾韋云測為眾韋光電利用自研的磁場-低溫兼容多維度光電測試系統(tǒng)開展測試服務(wù)的子品牌，將逐步開放低至4 K的微區(qū)反射/透射/角分辨光譜、偏振分辨的拉曼/熒光/熒光壽命掃描成像、光電流掃描成像、偏振二次諧波掃描成像等測試服務(wù)。
2025-01-22
2024-12-18
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