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微區(qū)磁光與角分辨系統(tǒng)技術(shù)革新,眾韋光電測(cè)試服務(wù)強(qiáng)力推出

發(fā)布人: 發(fā)布時(shí)間:2024-08-21 文字:

北京卓立漢光儀器有限公司(簡(jiǎn)稱卓立漢光)和湖北眾韋光電科技有限公司(簡(jiǎn)稱眾韋光電)是共同的合作伙伴,雙方致力于提供光電產(chǎn)品尤其是微區(qū)磁光及角分辨系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)與應(yīng)用,已從產(chǎn)品,技術(shù),銷售等多方面開(kāi)展深入合作。為了感謝與回饋廣大科研工作者對(duì)我們的支持與厚愛(ài),眾韋光電誠(chéng)摯決定在特定時(shí)間段內(nèi),面向科研群體,提供免費(fèi)的測(cè)樣服務(wù)。此次舉措旨在拓寬科研工作者接觸前沿科技的途徑,讓他們能夠在無(wú)科研儀器的前提下仍能有效獲取新技術(shù)測(cè)試結(jié)果,深入體驗(yàn)微區(qū)光譜、磁光及角分辨系統(tǒng)的產(chǎn)品魅力,從而更有效地利用該設(shè)備開(kāi)展研究,加快科研項(xiàng)目的進(jìn)程。
 

測(cè)試服務(wù)介紹

眾韋光電先后開(kāi)發(fā)了光學(xué)三階非線性效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng),飛秒時(shí)間分辨泵浦探測(cè)光學(xué)系統(tǒng),低溫微區(qū)磁光克爾及磁圓二色測(cè)量系統(tǒng),兼容低溫及磁場(chǎng)的多維度(反射/透射光譜、光致/電致發(fā)光、拉曼光譜、熒光壽命掃描成像、光電流、非線性光學(xué))微區(qū)光電測(cè)試系統(tǒng)等,已為國(guó)內(nèi)外多家知名高校和研究所提供了優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。基于Waynelabs3 的MAPS全電動(dòng)化微區(qū)測(cè)試框架,眾韋光電推出面向前沿科學(xué)研究與企業(yè)研發(fā)的云端測(cè)試服務(wù) -  眾韋云測(cè)。全電動(dòng)化的測(cè)試設(shè)備將微區(qū)光電測(cè)試的便捷度和自由度提升至另一個(gè)領(lǐng)域,即云端測(cè)試。用戶可郵寄樣品至眾韋云測(cè),在安排的時(shí)間段內(nèi),可遠(yuǎn)程自由操控整套設(shè)備進(jìn)行找樣,參數(shù)調(diào)整,單點(diǎn)測(cè)試及Mapping測(cè)試等。
 

全自動(dòng)微區(qū)偏振Raman/PL系統(tǒng)

全自動(dòng)微區(qū)氦氣閉循環(huán)Raman/PL系統(tǒng)


全自動(dòng)微區(qū)偏振SHG系統(tǒng)

  全自動(dòng)微區(qū)FLIM/PL系統(tǒng)

應(yīng)用案例

華中科技大學(xué)采用眾韋光電研制的單像素及陣列器件光電流投影掃描成像系統(tǒng)獲得了激光投影光電傳感單元的顯微光電流圖像。(Mater. Today 69, 79-87, 2023)
 


圖 單像素光電流圖像

 

復(fù)旦大學(xué)采用眾韋光電研制的熒光及熒光壽命掃描成像系統(tǒng)獲得了鈣鈦礦樣品的PL Mapping圖(Adv. Funct. Mater. 2024, 2402061)
 


圖 WBE鈣鈦礦薄膜的相關(guān)光學(xué)參數(shù)表征

CVD生長(zhǎng)堆疊MoS2 PL & Raman Mapping

 

WSe2低波數(shù) Raman


氦氣閉循環(huán)低溫系統(tǒng) – 銻化鎵(GaSb)變溫PL


生物藻類化石熒光顯微鏡成像


生物藻類化石單點(diǎn)FLIM和FLIM Mapping

MoSeTe 晶粒樣品 偏振SHG Mapping

預(yù)約測(cè)試

眾韋云測(cè)開(kāi)放首次首個(gè)樣品免費(fèi)測(cè)樣服務(wù),有測(cè)樣需求請(qǐng)及時(shí)填寫(xiě)測(cè)樣信息表并聯(lián)系我們安排機(jī)時(shí)。對(duì)于長(zhǎng)期合作客戶,可進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)或遠(yuǎn)程培訓(xùn),培訓(xùn)通過(guò)后,可開(kāi)放全遠(yuǎn)程自助測(cè)試權(quán)限。
測(cè)試服務(wù)類型:反射/透射譜、拉曼光譜、熒光/熒光壽命、光電導(dǎo)、角分辨、偏振二次諧波
測(cè)樣所需時(shí)間:現(xiàn)有設(shè)備及測(cè)試條件測(cè)試時(shí)間為收到樣品7天內(nèi);
樣品制備須知:空氣、溫度敏感樣品需提前告知;
測(cè)試服務(wù)聯(lián)系人:韓經(jīng)理 15172410555;蔡經(jīng)理 18707174175
更多詳細(xì)測(cè)試要求及細(xì)節(jié)客戶可自行拓展補(bǔ)充,嘗試性測(cè)試需測(cè)試時(shí)與測(cè)試技術(shù)人員實(shí)時(shí)溝通,測(cè)試費(fèi)用按照眾韋云測(cè)收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。
其他:眾韋云測(cè)測(cè)樣樣信息表(見(jiàn)附件一)

預(yù)約流程

湖北眾韋光電科技有限公司是一家從事實(shí)驗(yàn)室及工業(yè)設(shè)備研發(fā)及技術(shù)輸出服務(wù)的科技創(chuàng)新公司。公司業(yè)務(wù)包含光電測(cè)試、設(shè)備開(kāi)發(fā)、技術(shù)服務(wù)及進(jìn)出口貿(mào)易等多個(gè)方面,涵蓋光電子、電子、電氣等多個(gè)領(lǐng)域。已在超快光學(xué),顯微光學(xué),運(yùn)動(dòng)控制,及低溫、強(qiáng)磁、強(qiáng)激光等綜合極端實(shí)驗(yàn)條件下的光電設(shè)備開(kāi)發(fā)方面積累了豐富的經(jīng)驗(yàn)。眾韋云測(cè)為眾韋光電利用自研的磁場(chǎng)-低溫兼容多維度光電測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)展測(cè)試服務(wù)的子品牌,將逐步開(kāi)放低至4 K的微區(qū)反射/透射/角分辨光譜、偏振分辨的拉曼/熒光/熒光壽命掃描成像、光電流掃描成像、偏振二次諧波掃描成像等測(cè)試服務(wù)。